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TESTING AND TESTABLE DESIGN OF DIGITAL SYSTEMS

ECE 553
과목 설명

Faults and fault modeling, test equipment, test generation for combinational and sequential circuits, fault simulation, memory and microprocessor testing, design for testability, built-in self-test techniques, and fault location.

선수과목

COMPSCI/ECE 352 and COMPSCI 300 , graduate/professional standing, or member of Engineering Guest Students

충족 요건

This course does not satisfy any prerequisites.

학점

미보고

개설 시기

미보고

평점
3.53

5.3% 과거 데이터 대비

수료율
97.83%

-0.71% 과거 데이터 대비

A 비율
50%

38.78% 과거 데이터 대비

학급 규모
46

102.94% 과거 데이터 대비

Cumulative Grade Distribution

강사 (2026 Summr)

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